turnTrue 同加 \ 2D影像量測儀
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適用範圍

廣泛適用於各項精密要求之工業界,如粉末冶金,汽機車零件業,電子業界,精密齒輪....等。
隨著量測範圍之擴大, 亦可作細微輪廓(約1mm以內)之量測。

 

 

應用範例

觀察倍率的換算方式:

範例規格: 10倍鏡頭、2/3” CCD、17”螢幕

 

由於:  1英寸——靶面尺寸为宽12.7mm*高9.6mm,對角線16mm。

   2/3英寸——靶面尺寸为宽8.8mm*高6.6mm,對角線11mm。

   1/2英寸——靶面尺寸为宽6.4mm*高4.8mm,對角線8mm。

   1/3英寸——靶面尺寸为宽4.8mm*高3.6mm,對角線6mm。

   1/4英寸——靶面尺寸为宽3.2mm*高2.4mm,對角線4mm。

而        2/3” CCD對角線長度約11mm
且        17”螢幕對角線長度約431mm(17*25.4)

因此     倍率為  431 / 11 ≒ 39.1 (倍),

所以     加上鏡頭倍率10X後為391倍 

 

各項定義

  1. CCD
    通常加工是由一連續不規則高度、間隔和傾斜面形成的,假若使用電動式檢出器偵測器測量此加工表面粗糙度時,為消除所謂波紋成份,通常是使用電子高頻濾波器﹝treble-filter﹞消除斷面曲面長之波紋成份(祇截取短波長部份)。因此,觸針前端所繪製的波紋曲線(稱為斷面曲線)與通過放大器或濾波器而繪製之曲線是不相同的。後者是代表粗糙度的曲線,故稱為粗糙度曲線。而此粗糙度曲線的形狀常因截取值的選取方法有不同形狀。
    簡言之,所謂粗糙度曲線是經過波長成份篩選後的波紋形狀。但實際上,真正表面的斷面形狀是由無限個曲率半徑很小的檢出器在表面緩慢移動之上下移動波形。但是若再進一步嚴格的說,檢出器移動的實際形狀並非是表面凹凸不平的斷面圖形,特別是測量具有些微凹凸不平的測量物時,差異更為顯著。由於,理想斷面形狀是無法測量的,因此必須依照一定的基準方法,由檢出器的上下移動繪製斷面曲線才是一種比較可行的方法。
  2. CMOS
    由斷面曲線求最大高度或者十測量點平均粗糙度,是先截取斷面曲線上某一固定長度,此截取的長度就稱為基準長度。通常由具有相同節距之規則曲折表面選取基準長度是不會影響粗糙度測量值,但是對經過研磨等不規則波紋之表面,其標準長度越長則測得之表面粗糙度的測量值也越大。
  3. Telecentric
    採用直讀中心線平均粗糙度之電動測量器,為消除表面之“凹凸”低頻率成份,必須事先考量利用傅利葉級數解析斷面曲線,先消除頻率成份中之長波長波紋因素。長波長成份中被刪除波長的界限值就稱為截取值或臨界值。換言之,被測量物表面之凹凸不平形狀是由許多不同成份之波形所合成的。
    而此成份中較短的波長稱為粗糙度,比較長的波長就稱為波紋(Waviness)。被刪除之較長的波長部份就稱為截取值。在電動測量器的電子回路裡是使用高頻率波器消除較長波長成份。
  4. 同軸齊焦
    在一個零件的使用前必需有各種的管理要素來作確認,如長度、寬度、高度、平行度、真圓度、圓筒度、表面粗度、硬度等。若未管理則會造成產品品質的低劣,這也是機械故障的原因。
  5. LED光源
    而表面粗度的記號與圖示以下將說明之
    *表面粗度的記號 

 

功能

一般用途為在工件某一定長度內(一般在儀器上都已經設置好)計算其表面的高點與低點之各種統計數值。

 

 

工作原理

自從發明放大凹凸狀態的測量方法後,表面測量法亦隨之迅速進步,故目前有各式各樣的測量方法可茲運用,根據專家的分類測量方法計有以下三種主要測量法。
*比較法:肉眼、手指觸摸法、用顯微鏡觀測
*斷面測量法:切斷法、檢出器法、光波干涉法
*空間容積法:電氣容積法、放射性同位素法、餘隙觀測法